Den ECLASS Content durchsuchen
ECLASS bietet Ihnen die Möglichkeit, kostenlos die aktuellen ECLASS Releases anzusehen und zu durchsuchen. Die Suchfunktion ist intuitiv zu bedienen und ermöglicht es Ihnen, den Standard schnell und unbürokratisch kennenzulernen.
Die Verwendung der ECLASS Suche
Bitte wählen Sie zunächst aus, …
- ob Sie ECLASS Basic oder Advanced durchsuchen möchten
- in welcher Releaseversion Sie suchen möchten
- in welcher Sprache Sie suchen möchten
- ob Sie in den Klassen oder nach Merkmalen, Werten etc. suchen möchten.
Geben Sie dann einen Suchbegriff (z.B. „Bleistift“) ein und klicken Sie auf „Suche“.
Bitte beachten Sie, dass die Anwendung des ECLASS Standards eine Lizenz erfordert (siehe auch ECLASS Nutzungsbedingungen).
Klassifikation: 27170192 [AHE375002]
| Bevorzugte Benennung | 27-17-01-92 Test devices, detection systems, monitoring systems for LP (accessories) |
|---|---|
| Definition | Sub-group (4th level) for objects with complemental characteristics, without which the basic function of the objects classified under the parent-class on the 3rd level is still guaranteed |
| IRDI | 0173-1#01-AHE375#002 |
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BASIC Merkmale: Test devices, detection systems, monitoring systems for LP (accessories)
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Product type
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GLN of manufacturer
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Manufacturer product designation
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product article number of supplier
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Supplier product order suffix
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Supplier product type
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Supplier product designation
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name of supplier
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GLN of supplier
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URI of manufacturer
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Manufacturer product root
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Manufacturer product family
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Manufacturer name
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GTIN
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Brand
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Manufacturer product description
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Manufacturer product order suffix
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product article number of manufacturer
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address of additional link
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Customs tariff number
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Supplier product family
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Supplier product description
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Supplier product root