Den ECLASS Content durchsuchen
ECLASS bietet Ihnen die Möglichkeit, kostenlos die aktuellen ECLASS Releases anzusehen und zu durchsuchen. Die Suchfunktion ist intuitiv zu bedienen und ermöglicht es Ihnen, den Standard schnell und unbürokratisch kennenzulernen.
Die Verwendung der ECLASS Suche
Bitte wählen Sie zunächst aus, …
- ob Sie ECLASS Basic oder Advanced durchsuchen möchten
- in welcher Releaseversion Sie suchen möchten
- in welcher Sprache Sie suchen möchten
- ob Sie in den Klassen oder nach Merkmalen, Werten etc. suchen möchten.
Geben Sie dann einen Suchbegriff (z.B. „Bleistift“) ein und klicken Sie auf „Suche“.
Bitte beachten Sie, dass die Anwendung des ECLASS Standards eine Lizenz erfordert (siehe auch ECLASS Nutzungsbedingungen).
Klassifikation: 34550200 [ADS097008]
Bevorzugte Benennung | 34-55-02 X 射线透视装置 |
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Definition | X 射线透视设备由一个电流驱动的辐射发生器、一个由对 X 射线敏感的半导体(光电池矩阵)制成的电子探测器(图像转换器)和一个监视器组成。 |
IRDI | 0173-1#01-ADS097#008 |
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