Recherche dans le contenu ECLASS
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ECLASS BASIC 13.0 (fr)
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- 27 Electricité, Electronique, Automatisation et Commande
- 27-15 Technique d'analyse, appareillage
- 27-15-01 Paramagnétisme, mesure O2 (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-02 Spectomètre optique (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-03 Photomètre,mesure de la lumière dispersée, diffraction (PAT)
- 27-15-04 Réfractomètre, polarimètre (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-05 Spectromètre de masse (SM, technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-06 Chromatographe/technique de fractionnement (GC, LC, PAT)
- 27-15-07 PH, oxydoréduction, conductivité (PAT)
- 27-15-08 Détecteur électrochimique pH, oxydoréduction et conductivité (PAT)
- 27-15-09 Procédé de mesure avec réaction auxiliaire spécifique matière (PAT)
- 27-15-10 FID, TOC, TN (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-11 Hygrométrie (pas radiométrie, technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-12 Radiométrie (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-13 Calorimètre, surveillance antidéflagrante (PAT)
- 27-15-14 Viscosimètre (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-15 Conductibilité thermique (PAT)
- 27-15-16 Mesure sons/mesure ultrasons (PAT)
- 27-15-17 Tensiomètre (technologie d'analyse en cours de processus PAT)
- 27-15-18 Mesure électrostatique, tribologique de la poussière (PAT)
- 27-15-90 Technique d'analyse, appareillage (autres)
Classification: 27150000 [AAB951010]
Preferred name | 27-15 Technique d'analyse, appareillage |
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Definition | Devices and technology for systematical measurement, fragmentation, examination and analysis of objects without neglecting the intertwining and integration of the singular analysed elements. It can be differentiated between qualitative, quantitative analysis methods for the clearance or identification of the structure within the various scientific areas. Main group 27150000 is divided into devices for analysis for the measurement of various physical sizes as well as the resulting measurements and complex attachments for the structure analysis of the materials. Further division is by systems, parts, components, maintenance, inspection and service of the analytic devices |
IRDI | 0173-1#01-AAB951#010 |
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