Recherche dans le contenu ECLASS
ECLASS vous permet de consulter les dernières versions d’ECLASS et d’effectuer une recherche gratuitement. La fonction de recherche est intuitive et vous permet de vous familiariser rapidement avec le standard ECLASS, sans qu’aucune démarche administrative ne soit nécessaire de votre part.
L'utilisation de la recherche dans ECLASS
Veuillez tout d'abord choisir ...
- si vous souhaitez effectuer une recherche dans ECLASS Basic ou Advanced
- dans quelle version de release vous souhaitez effectuer la recherche
- dans quelle langue vous souhaitez effectuer la recherche
- si vous souhaitez rechercher dans les classes ou par caractéristiques, valeurs, etc.
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Veuillez noter que l'application du Standard ECLASS nécessite une licence. (voir également ECLASS Terms of Use)
ECLASS BASIC 14.0 (cn)
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- 27 电气、自动化和过程控制技术
- 27-15 分析法,电器
- 27-15-12 放射性测量(专利)
- 27-15-12-01 放射点源(专利,放射性测量)
- 27-15-12-02 放射点源滤光镜(专利,放射性测量)
- 27-15-12-03 测量标尺发射极(专利,放射性测量)
- 27-15-12-04 测量标尺发射极滤光镜(专利,放射性测量)
- 27-15-12-05 附加保护(专利,放射性测量)
- 27-15-12-06 传送保护(专利,放射性测量)
- 27-15-12-07 点测器(专利,放射性测量)
- 27-15-12-08 测量标尺探测器(专利,放射性测量)
- 27-15-12-09 中子探测器(专利,放射性测量)
- 27-15-12-10 测量传感器(专利,放射性测量)
- 27-15-12-90 辐射测量设备(专利,未归类)
- 27-15-12-91 辐射度学(专利,零件)
- 27-15-12-92 辐射测量仪(PAT,配件)
Classification: 27151200 [AFZ923013]
Preferred name | 27-15-12 放射性测量(专利) |
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IRDI | 0173-1#01-AFZ923#013 |
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